パッキン、テフロン、Oリング、フッ素樹脂、オイルシール、ゴムのパッキンランド

ゴムの耐熱耐寒性の各種試験

耐熱老化試験

架橋(加硫)ゴムを、規定温度で規定時間加熱したのちに、ゴムの物性を測定します。また、その測定値と、加熱する前の物性との変化をみます。その変化の大小で、ゴムの耐熱性を評価します。測定する物性は、引張り強さ、切断時の伸び、引張り応力、硬さなどがあります。

低温試験

架橋(加硫)ゴムを測定する試験は、低温衝撃ぜい化試験、ゲーマンねじり試験、低温圧縮永久ひずみ試験、T−R試験、低温曲げ試験等があります。

低温衝撃ぜい化試験

ゴムの試験片の端を固定し、規定の低温に保ち、試験片に一定の力で衝撃を与え、試験片の破壊や亀裂などを見ます。

ゲーマンねじり試験

ゴムの試験片頭部を、ねじり定数が一定のワイヤーに連結し、ワイヤ頭部にねじりを与えたときの、試験片頭部のねじれの角度(x)を読みます。温度とxとの関係をグラフにし、凍結点、軟化点を求めます。一般的には、比モジュラス(180−x)/xが常温におけるそれの2,5,10,100倍になる温度T2,T5,T10,T100を求めます。

低温圧縮永久ひずみ試験

ゴムの円柱状の試験片を、所定の時間、低温下で、一定の圧縮ひずみを与え、その後圧縮力を取り除き、規定時間後の試験片から、その厚さを測定しひずみ率を見ます。一般的には、試験後の厚さは、試験温度で測定され、10秒後、30分後の厚さが測定されます。

T−R試験

低温弾性回復試験とも呼ばれます。ゴムの試験片を伸ばした状態で凍結させて、その後の温度上昇に伴う形状の復元性(低温での永久ひずみ)を測定します。ゴムのぜい化(もろくなる)温度や、結晶性を簡易比較ができる試験です。ゴムの試験片を伸ばした状態で凍結し、その伸張を緩めます。温度を一定速度で上昇させながらゴムを自由に収縮させます。10%および70%収縮する温度をTR10、TR70といいます。この温度差が大きいほど結晶化しやすい傾向にあります。TR10は、ぜい化温度と、TR70は、低温圧縮永久ひずみと関連しています。

低温曲げ試験

60mm間隔の平行板に、試験片をはさみ、規定温度で規定時間放置し、平行板の間隔をすみやかに25mmまでにして試験片を曲げ、そのときの曲げによる試験片の異常の有無を判定します。


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