架橋（加硫）ゴムを、規定温度で規定時間加熱したのちに、ゴムの物性を測定します。また、その測定値と、加熱する前の物性との変化をみます。その変化の大小で、ゴムの耐熱性を評価します。測定する物性は、引張り強さ、切断時の伸び、引張り応力、硬さなどがあります。
架橋（加硫）ゴムを測定する試験は、低温衝撃ぜい化試験、ゲーマンねじり試験、低温圧縮永久ひずみ試験、Ｔ－Ｒ試験、低温曲げ試験等があります。
ゴムの試験片の端を固定し、規定の低温に保ち、試験片に一定の力で衝撃を与え、試験片の破壊や亀裂などを見ます。
ゴムの試験片頭部を、ねじり定数が一定のワイヤーに連結し、ワイヤ頭部にねじりを与えたときの、試験片頭部のねじれの角度（ｘ）を読みます。温度とｘとの関係をグラフにし、凍結点、軟化点を求めます。一般的には、比モジュラス（１８０－ｘ）／ｘが常温におけるそれの２，５，１０，１００倍になる温度Ｔ２，Ｔ５，Ｔ１０，Ｔ１００を求めます。
ゴムの円柱状の試験片を、所定の時間、低温下で、一定の圧縮ひずみを与え、その後圧縮力を取り除き、規定時間後の試験片から、その厚さを測定しひずみ率を見ます。一般的には、試験後の厚さは、試験温度で測定され、１０秒後、３０分後の厚さが測定されます。
低温弾性回復試験とも呼ばれます。ゴムの試験片を伸ばした状態で凍結させて、その後の温度上昇に伴う形状の復元性（低温での永久ひずみ）を測定します。ゴムのぜい化（もろくなる）温度や、結晶性を簡易比較ができる試験です。ゴムの試験片を伸ばした状態で凍結し、その伸張を緩めます。温度を一定速度で上昇させながらゴムを自由に収縮させます。１０％および７０％収縮する温度をＴＲ１０、ＴＲ７０といいます。この温度差が大きいほど結晶化しやすい傾向にあります。ＴＲ１０は、ぜい化温度と、ＴＲ７０は、低温圧縮永久ひずみと関連しています。
６０ｍｍ間隔の平行板に、試験片をはさみ、規定温度で規定時間放置し、平行板の間隔をすみやかに２５ｍｍまでにして試験片を曲げ、そのときの曲げによる試験片の異常の有無を判定します。
